Metrology
 
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ÀåºñÁ¤º¸
Àåºñ¸í MCV 2500 HG-CV System for EPI resistivity measurement
¸ðµ¨¸í MCV2500 Á¦Á¶»ç SDI/SEMILAB
¿þÀÌÆÛ»çÀÌÁî 12" Vintage 2010-10
¸Å¸Å»óÅ ÆǸÅÁß Àåºñ»óÅ ¼ö¸®Áß
Á¦¿ø ¡á Capable up to 12" Wafer
¡á SSM 52 Capacitance Measurement Unit
¡á Motor control unit
¡á Pneumatic control Unit
¡á PC System
¡á PROCAP software
¡á Performance
- CV Meter Noise Test (Schottky Diode Test): 1 STD(%) <0.167%
- MOS Wafer Area Test : 1 STD(%) <0.1%

¡á Capacitance: 0 ~ 2000pF(1MHz), 1 ~ 20,000pF(100KHz)
¡á Conductance: 0 ~ 2000¥ìS
¡á DC Bias voltage: ¡¾ 250V
¡á Ramp Rate: 0 ~ 50 V/s continuously variable
¡á Drive Signal Frequency at 1Mhz voltage=15mV rms
¡á Stress Voltage: ¡¾ 250V
¡á CDA: 80~100psi, Nitrogen for sample purge:0~15psi
¡á Ambient temperature: 18¡Æ - 25¡ÆC ¡¾ 2¡ÆC over 24 hour period
   
  - Ãæû³²µµ õ¾È½Ã µ¿³²±¸ ÅëÁ¤3·Î 3 (ÁÖ)Á¦³×½Ã½º ¿ì)31208 TEL: 041-554-6920~1 FAX: 041-554-6922