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MCV 2500 HG-CV System for EPI resistivity measurement |
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MCV2500 |
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SDI/SEMILAB |
¿þÀÌÆÛ»çÀÌÁî |
12"
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Vintage |
2010-10 |
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¡á Capable up to 12" Wafer
¡á SSM 52 Capacitance Measurement Unit
¡á Motor control unit
¡á Pneumatic control Unit
¡á PC System
¡á PROCAP software
¡á Performance
- CV Meter Noise Test (Schottky Diode Test): 1 STD(%) <0.167%
- MOS Wafer Area Test : 1 STD(%) <0.1%
¡á Capacitance: 0 ~ 2000pF(1MHz), 1 ~ 20,000pF(100KHz)
¡á Conductance: 0 ~ 2000¥ìS
¡á DC Bias voltage: ¡¾ 250V
¡á Ramp Rate: 0 ~ 50 V/s continuously variable
¡á Drive Signal Frequency at 1Mhz voltage=15mV rms
¡á Stress Voltage: ¡¾ 250V
¡á CDA: 80~100psi, Nitrogen for sample purge:0~15psi
¡á Ambient temperature: 18¡Æ - 25¡ÆC ¡¾ 2¡ÆC over 24 hour period |
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